DIN EN 60749-1-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第1部分:总则
作者:标准资料网
时间:2024-05-21 20:47:28
浏览:8324
来源:标准资料网
下载地址: 点击此处下载
【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part1:General(IEC60749-1:2002+Corr.1:2003);GermanversionEN60749-1:2003
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第1部分:总则
【标准号】:DINEN60749-1-2003
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2003-12
【实施或试行日期】:2003-12-01
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:环境条件;半导体;外观检查(试验);集成电路;半导体器件;温度变化;气候试验;电子工程;电气工程;温度;试验;环境试验;机械试验;潮气;耐力;电学测量;电子设备及元件;尺寸;元部件;气候;特性;大气压;环境;易燃性
【英文主题词】:
【摘要】:ThispartofDINEN60749isapplicabletosemiconductordevices(discretedevicesandintegratedcircuits)andestablishesprovisionscommontoallotherpartsoftheseries.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:10P;A4
【正文语种】:德语
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第1部分:总则
【标准号】:DINEN60749-1-2003
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2003-12
【实施或试行日期】:2003-12-01
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:环境条件;半导体;外观检查(试验);集成电路;半导体器件;温度变化;气候试验;电子工程;电气工程;温度;试验;环境试验;机械试验;潮气;耐力;电学测量;电子设备及元件;尺寸;元部件;气候;特性;大气压;环境;易燃性
【英文主题词】:
【摘要】:ThispartofDINEN60749isapplicabletosemiconductordevices(discretedevicesandintegratedcircuits)andestablishesprovisionscommontoallotherpartsoftheseries.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:10P;A4
【正文语种】:德语
下载地址:
点击此处下载